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IEC/SC 3D Open Technical Forum開催のご案内

IEC/SC 3D Open Technical Forum開催のご案内
~製造業DX向けのIEC CDD利活用~

趣旨

  製造業DXを後押しするIEC CDD製品オントロジーは、IEC、ISOでのスマート規格推進のための中心的な規格と位置付けられています。産業界は、機械的解釈・実行可能なデータ作成や、企業をまたがる多様なデータ間の連携・相互運用を実現するために、IEC/ SC 3Dが開発しているIEC 61360モデリング手法及びIEC CDDを利用しています。本フォーラムは、IECでのスマート規格開発の最前線と、IEC 61360及びIEC CDDの国内外の利活用状況について、各産業界の専門家にご講演頂きます。皆さまのDX推進活動上のヒントになれば幸いです。

1.開催日時

2021年11月15日(月)  13:00~17:00

2.開催方式

Webexによるオンラインセミナ形式

3.開催内容/プログラム

講演1~7は日本語、講演8及び9は英語による発表

時間 題目 発表者
13:00-13:05 開会のご挨拶 平川 秀治
IEC/SC 3D日本国内委員長
1 13:05-13:30 IEC SC 3D活動紹介
山下 蘭
(株)東芝
IEC/SC 3D国際議長
2 13:30-14:00 プロセスオートメーション分野向けIEC CDD製品オントロジー開発
~ IEC 61987シリーズの現状 ~
松本 高治
横河電機(株)
IEC/TC 65エキスパート
IEC/TC 65国内委員長
3 14:00-14:20 IEC CDDで表現した「工業プロセス用調節弁」に対する現場からの期待 奥津 良之
アズビル(株)
アズビルアカデミー 技師長
IEC/TC 65/SC 65B/WG 9エキスパート
休憩
(10分)
4 14:30-15:00
IEC/SG12:IECスマート規格について 平川 秀治
東京電機大学 客員教授
IEC/SG 12エキスパート、日本国内代表
5 15:00-15:20 IEC/TC 111におけるIEC CDD対応活動
- Material Declaration –
神垣 幸志
(一社)産業環境管理協会
資源・リサイクル促進センター
IEC/TC 111, ISO/TC 207 JWG 16コンビナー
6 15:20-15:40 事例紹介1:製造業DXにおいてIEC CDDを利活用したAAS事例 飯島 拓也
東芝インフラシステムズ(株)
計測制御機器部フェロー
IEC/TC 65エキスパート
7 15:40-16:00 事例紹介2:AASのデータ品質チェックにおけるIEC CDDとECLASSデータ辞書の活用 岩政 幹人
(株)東芝研究開発センター
シニアエキスパート
休憩
(10分)
8 UTC 07:10-07:30
JST 16:10-16:30
ECLASS – Benefits for the entire value chain (General presentation and the harmonisation with ISO and IEC and AAS) (英語) ECLASS幹部
9 UTC 07:30-08:00
JST 16:30-17:00
ECLASS – Data sets for computer aided engineering (Advanced data for CAx) (英語) ECLASS幹部

4.参加申込み方法

どなたでも参加できます(要事前登録,参加費無料)。
申込方法:下記のURLにアクセスし、入力画面からお申し込みください。
https://japanese-standards-association.webex.com/japanese-standards-association-jp/onstage/g.php?MTID=e84c4d8b2d80f186dd519c96ecdd7ab2f
※登録後に、WEBセミナの招待状が送られます。

5.申込締切

11月8日(月)までに出席登録をお願い致します。

6.本件に関する問合わせ先

主催:一般財団法人日本規格協会 IEC/SC 3D国内委員会
問合せ:事務局  小綿ひろみ(kowata@jsa.or.jp)、吉田均(h_yoshida@jsa.or.jp

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