規格一覧
液晶表示デバイスの画面サイズ呼称方法
Defining method of display size for Liquid Crystal Display devices
発行年月日：
2011-02-01
状態： 有効
和文
プレビュー
18ページ
6,160 円（税込） 本体価格：5,600円
備考：
スタビライズド：2024-10-01
旧規格：ED-2502 ED-2502A
液晶表示デバイスに関する用語及び文字記号
Terms,definition and letter symbols for liquid crystal display devices
発行年月日：
2007-03-01
状態： 有効
和文
プレビュー
53ページ
13,860 円（税込） 本体価格：12,600円
備考：
旧規格：ED-2511 ED-2511A
液晶表示パネル及びその構成材料の測定方法
Measuring methods for Liquid Crystal Display panels and constructive materials
発行年月日：
2020-02-01
状態： 有効
和文
プレビュー
57ページ
14,740 円（税込） 本体価格：13,400円
備考：
旧規格：ED-2521 ED-2521A ED-2521B ED-2521C
反射型液晶表示モジュール測定方法（マトリクス型液晶表示モジュール）
Measuring methods for matrix reflective LCD modules
発行年月日：
2001-03-01
状態： 有効
和文
プレビュー
54ページ
14,080 円（税込） 本体価格：12,800円
備考：
液晶表示デバイスの環境試験方法
Environmental test methods for liquid crystal display devices
発行年月日：
2004-12-01
状態： 有効
和文
プレビュー
66ページ
16,720 円（税込） 本体価格：15,200円
備考：
旧規格：ED-2531A
有機ELディスプレイモジュール測定方法
Measuring methods for Organic EL Display modules
発行年月日：
2005-04-01
状態： 有効
和文
プレビュー
48ページ
12,760 円（税込） 本体価格：11,600円
備考：
スタビライズド：2024-10-01
有機ELディスプレイモジュール測定方法(II)－焼付き，輝度寿命－
Measuring methods for Organic LED Display modules (II) ? Image sticking, Lifetime
発行年月日：
2020-02-01
状態： 有効
和文
プレビュー
21ページ
6,820 円（税込） 本体価格：6,200円
備考：
旧規格：ED-2811 ED-2811A
個別半導体デバイス用語
Terms and definitions for discrete semiconductor devices
発行年月日：
2006-01-01
状態： 有効
和文
プレビュー
19ページ
6,380 円（税込） 本体価格：5,800円
備考：
旧規格：ED-4002
ダイオードの定格・特性及び試験方法
Essential ratings, characteristics and testing methods for diodes
発行年月日：
2021-05-01
状態： 有効
和文
プレビュー
44ページ
11,880 円（税込） 本体価格：10,800円
備考：
旧規格：ED-4511 ED-4511A ED-4511B
3端子サイリスタの定格・特性及び試験方法
Essential ratings characteristics and testing methods for thyristors
発行年月日：
1994-01-01
状態： 有効
和文
プレビュー
75ページ
18,700 円（税込） 本体価格：17,000円
備考：
スタビライズド：2019-01-01
旧規格：SD-11 SD-21
ターンオフサイリスタの定格・特性及び試験方法
Essential ratings characteristics and testing methods for turn off thyristors
発行年月日：
1995-01-01
状態： 有効
和文
プレビュー
74ページ
18,480 円（税込） 本体価格：16,800円
備考：
スタビライズド：2019-01-01
パワートランジスタの定格・特性及び試験方法
Essential ratings characteristics and testing methods for high power transistors
発行年月日：
1999-08-01
状態： 有効
和文
プレビュー
90ページ
22,000 円（税込） 本体価格：20,000円
備考：
スタビライズド：2015-06-01
旧規格：ED-4541
電界効果パワートランジスタの定格・特性及び試験方法
Essential ratings characteristics and testing methods for high power field effect transistors
発行年月日：
2018-02-01
状態： 有効
和文
プレビュー
146ページ
34,320 円（税込） 本体価格：31,200円
備考：
旧規格：ED-4561 ED-4561A
絶縁ゲートバイポーラトランジスタの定格・特性及び試験方法
Essential ratings, characteristics and testing methods for insulated gate bipolar transistors
発行年月日：
2016-03-01
状態： 有効
和文
プレビュー
136ページ
32,120 円（税込） 本体価格：29,200円
備考：
旧規格：ED-4562 ED-4562A
半導体デバイスの環境及び耐久性試験方法（基本事項）
Environmental and endurance test methods for semiconductor devices (General)
発行年月日：
2023-03-01
状態： 有効
和文
プレビュー
20ページ
6,600 円（税込） 本体価格：6,000円
備考：
旧規格：ED-4701/001 ED-4701/001A
寿命試験の試験時間，試験個数の決定手順
Procedure of the test time and the sample size determination for the life tests
発行年月日：
2016-03-01
状態： 有効
和文
プレビュー
36ページ
10,120 円（税込） 本体価格：9,200円
備考：
「寿命試験の試験時間･個数の計算ツール」が付属
半導体デバイスの環境及び耐久性試験方法 (寿命試験 I)
Environmental and endurance test methods for semiconductor devices (Life test I)
発行年月日：
2023-03-01
状態： 有効
和文 50ページ
13,200 円（税込） 本体価格：12,000円
備考：
旧規格：ED-4701/100 ED-4701/100A
半導体デバイスの環境及び耐久性試験方法 (寿命試験II)
Environmental and endurance test methods for semiconductor devices (Life test II)
発行年月日：
2023-03-01
状態： 有効
和文 30ページ
8,800 円（税込） 本体価格：8,000円
備考：
旧規格：ED-4701/200 ED-4701/200A
半導体デバイスの環境及び耐久性試験方法(強度試験I-1)
Environmental and endurance test methods for semiconductor devices(Stress test I-1)
発行年月日：
2016-07-01
状態： 有効
和文 96ページ
23,320 円（税込） 本体価格：21,200円
備考：
旧規格：ED-4701/301 はんだ耐熱性試験の加湿方法3（JEDEC同等条件）に対するリフロープロファイルの運用を厳格化した（JEDECとの整合)
半導体デバイスの環境及び耐久性試験方法(強度試験I-2)
Environmental and endurance test methods for semiconductor devices (Stress test I-2)
発行年月日：
2025-02-01
状態： 有効
和文 152ページ
35,640 円（税込） 本体価格：32,400円
備考：
半導体デバイスの環境及び耐久性試験方法 (強度試験II)
Environmental and endurance test methods for semiconductor devices (Stress test II)
発行年月日：
2023-03-01
状態： 有効
和文 52ページ
13,640 円（税込） 本体価格：12,400円
備考：
旧規格：ED-4701/400 ED-4701/400A
半導体デバイスの環境及び耐久性試験方法 (その他の試験)
Environmental and endurance test methods for semiconductor devices (Miscellaneous)
発行年月日：
2023-03-01
状態： 有効
和文 38ページ
10,560 円（税込） 本体価格：9,600円
備考：
旧規格：ED-4701/500 ED-4701/500A
半導体デバイスの環境及び耐久性試験方法(個別半導体特有の試験)
Environmental and endurance test methods for semiconductor devices(Specific test for discrete semiconductors)
発行年月日：
2013-12-01
状態： 有効
和文 32ページ
9,240 円（税込） 本体価格：8,400円
備考：
表面実装半導体デバイスの機械的強度試験方法
Mechanical stress test methods for semiconductor surface mounting devices
発行年月日：
2015-03-01
状態： 有効
和文
プレビュー
126ページ
29,920 円（税込） 本体価格：27,200円
備考：
旧規格：ED-4702 ED-4702A ED-4702B
半導体デバイスの工程内評価及び構造解析方法
In-line evaluation methods and structural analysis methods for semiconductor devices
発行年月日：
1994-06-01
状態： 有効
和文 59ページ
15,180 円（税込） 本体価格：13,800円
備考：
半導体デバイスの工程内評価及び構造解析方法（追補1）
In-line evaluation methods and structural analysis methods for semiconductor devices (Amendment1)
発行年月日：
1995-03-01
状態： 有効
和文 31ページ
9,020 円（税込） 本体価格：8,200円
備考：
半導体デバイスのウエハープロセスの信頼性試験方法
Wafer Level Reliability test methods for semiconductor devices
発行年月日：
2011-07-01
状態： 有効
和文
プレビュー
180ページ
41,800 円（税込） 本体価格：38,000円
備考：
旧規格：ED-4704 ED-4704-1
FLASHメモリの信頼性試験方法
Testing Standards for Reliability of Flash Memory
発行年月日：
2009-03-01
状態： 有効
和文
プレビュー
30ページ
8,800 円（税込） 本体価格：8,000円
備考：
発光ダイオード
Light Emitting Diodes
発行年月日：
2024-03-01
状態： 有効
和文
プレビュー
76ページ
18,920 円（税込） 本体価格：17,200円
別途お問合せ下さい。
備考：
旧規格：ED-4912 ED-4912A
半導体EMC性能等価性評価法
EMC Performance equivalence test of Semiconductor
発行年月日：
2025-02-01
状態： 有効
和文
プレビュー
27ページ
8,140 円（税込） 本体価格：7,400円
備考：
音声出力用集積回路測定方法
Measuring methods for Integrated Circuits used in audio-frequency output parts
発行年月日：
2003-03-01
状態： 有効
和文
プレビュー
15ページ
5,500 円（税込） 本体価格：5,000円
備考：
旧規格：IC-4 ED-5101
テレビジョン受信機用集積回路測定方法
Measuring methods for integrated circuits for Television Recievers
発行年月日：
2003-11-01
状態： 有効
和文
プレビュー
108ページ
25,960 円（税込） 本体価格：23,600円
備考：
旧規格：IC-8 ED-5102
リニア集積回路測定方法（演算増幅器及びコンパレータ）
Measuring methods for Linear Integrated Circuits (Operational amplifier and Comparator)
発行年月日：
2003-06-01
状態： 有効
和文
プレビュー
20ページ
6,600 円（税込） 本体価格：6,000円
備考：
旧規格：IC-2 ED-5103
固体撮像素子測定方法
Measuring methods for solid state image sensors
発行年月日：
1996-07-01
状態： 有効
和文
プレビュー
63ページ
16,060 円（税込） 本体価格：14,600円
備考：
旧規格：EDX-5301
I/Oインタフェースモデル技術標準（IMIC）
Standard for I/O Interface Model for Integrated Circuits (IMIC)
発行年月日：
2001-03-01
状態： 有効
和文
プレビュー
116ページ
27,720 円（税込） 本体価格：25,200円
備考：
シンクロナス・グラフィックRAM及びシンクロナス・ビデオRAM標準機能仕様
Standard functional specification for synchronous graphic RAM and synchronous video RAM
発行年月日：
1995-07-01
状態： 有効
和文
プレビュー
14ページ
5,280 円（税込） 本体価格：4,800円
備考：
3.3V用スタブ直列終端型論理（SSTL_3）標準機能仕様（電源電圧3.3Vデジタル集積回路インタフェース標準）
Stub Series Terminated Logic for 3.3Volts (SSTL_3) (A 3.3V Supply Voltage based Interface Standard for Digital ICs)
発行年月日：
1996-03-01
状態： 有効
和文
プレビュー
24ページ
7,480 円（税込） 本体価格：6,800円
備考：
2.5Vスタブ直列終端型論理（SSTL_2）標準機能仕様（電源電圧2.5Vデジタル集積回路インタフェース標準）
Stub Series Terminated Logic for 2.5Volts (SSTL_2) (A 2.5V Supply Voltage based Interface Standard for Digital ICs)
発行年月日：
1998-08-01
状態： 有効
和文
プレビュー
26ページ
7,920 円（税込） 本体価格：7,200円
備考：
プロセッサ搭載メモリ・モジュール（PEMM）動作仕様標準
Processor Enhanced Memory Module(PEMM) Standard for Processor Enhanced Memory Module Functional Specifications
発行年月日：
1998-07-01
状態： 有効
和文
プレビュー
42ページ
11,440 円（税込） 本体価格：10,400円
備考：
2.5Vスタブ直列終端型論理（SSTL_2）差動入力信号規格
Stub Series Terminated Logic for 2.5Volts (SSTL_2) Differential Input Signal Specifications
発行年月日：
1998-09-01
状態： 有効
和文
プレビュー
14ページ
5,280 円（税込） 本体価格：4,800円
備考：
半導体パッケージ外形規格作成に関する基本事項
Recommended practice on standard for the preparation of outline drawings of semiconductor packages
発行年月日：
2008-01-01
状態： 有効
和文
プレビュー
44ページ
11,880 円（税込） 本体価格：10,800円
備考：
スタビライズド：2013-12-01
旧規格：ED-7401A ED-7300
集積回路パッケージ個別規格作成マニュアル
Manual for preparation of individual standards of integrated circuits packages
発行年月日：
2007-03-01
状態： 有効
和文
プレビュー
20ページ
6,600 円（税込） 本体価格：6,000円
備考：
スタビライズド：2013-12-01
旧規格：ED-7301
集積回路パッケージデザインガイド作成マニュアル
Manual for preparation of design guides of integrated circuits packages
発行年月日：
2007-03-01
状態： 有効
和文 24ページ
7,480 円（税込） 本体価格：6,800円
備考：
スタビライズド：2013-12-01
旧規格：ED-7401-1 ED-7302
集積回路パッケージの名称及びコード
Name and code for integrated circuits package
発行年月日：
2008-03-01
状態： 有効
和文
プレビュー
28ページ
8,360 円（税込） 本体価格：7,600円
備考：
旧規格：ED-7303B
BGA規定寸法の測定方法
Measuring method for package dimensions of ball grid array (BGA)
発行年月日：
1997-05-01
状態： 有効
和文
プレビュー
46ページ
12,320 円（税込） 本体価格：11,200円
備考：
スタビライズド：2014-03-01
SOP規定寸法の測定方法
Measuring method for package dimensions of Small Outline Package (SOP)
発行年月日：
1997-03-01
状態： 有効
和文
プレビュー
32ページ
9,240 円（税込） 本体価格：8,400円
備考：
スタビライズド：2014-03-01
集積回路パッケージ外形設計指標（ガルウイングリード）
Unit Design Guide for the Preparation of Package Outline Drawing of Integrated Circuits (Gullwing-Lead)
発行年月日：
2012-04-01
状態： 有効
和文 14ページ
5,280 円（税込） 本体価格：4,800円
備考：
旧規格：ED-7305
昇温によるパッケージ反りの測定方法と最大許容値
Measurement methods of package warpage at elevated temperature and the maximum permissible warpage
発行年月日：
2007-03-01
状態： 有効
和文 38ページ
10,560 円（税込） 本体価格：9,600円
備考：
集積回路パッケージ個別規格〔TSOP（1）〕
Standard of integrated circuits package (TSOP(1))
発行年月日：
1997-08-01
状態： 有効
和文
プレビュー
15ページ
5,500 円（税込） 本体価格：5,000円
備考：
集積回路パッケージ個別規格〔P-BGA（キャビティダウンタイプ）〕
Standard of integrated circuits package (P-BGA (Cavity down type))
発行年月日：
1998-11-01
状態： 有効
和文
プレビュー
55ページ
14,300 円（税込） 本体価格：13,000円
備考：
旧規格：ED-7311-10
