JEITA ED-4701/301A
半導体デバイスの環境及び耐久性試験方法(強度試験I-1)
Environmental and endurance test methods for semiconductor devices(Stress test I-1)
発行年月日:
2016-07-01
状態:
有効
和文 96ページ
23,320 円(税込) 本体価格:21,200円
- 規格概要
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この規格は半導体デバイスの環境及び耐久性試験方法(強度試験I-1)について規定する。全文を表示する
| ICS | |
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| 対応規格 |
同等性に関する説明
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| 引用JIS規格 | |
| 引用規格 | |
| 備考 | 旧規格:ED-4701/301 はんだ耐熱性試験の加湿方法3(JEDEC同等条件)に対するリフロープロファイルの運用を厳格化した(JEDECとの整合) |