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JEITA ED-4701/301A
半導体デバイスの環境及び耐久性試験方法(強度試験I-1)
Environmental and endurance test methods for semiconductor devices(Stress test I-1)

規格概要
この規格は半導体デバイスの環境及び耐久性試験方法(強度試験I-1)について規定する。
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ICS
対応規格
引用JIS規格
引用規格
備考 旧規格:ED-4701/301 はんだ耐熱性試験の加湿方法3(JEDEC同等条件)に対するリフロープロファイルの運用を厳格化した(JEDECとの整合)
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