JEITA ED-4701/600
半導体デバイスの環境及び耐久性試験方法(個別半導体特有の試験)
Environmental and endurance test methods for semiconductor devices(Specific test for discrete semiconductors)
発行年月日:
2013-12-01
状態:
有効
和文 32ページ
9,240 円(税込) 本体価格:8,400円
- 規格概要
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| 対応規格 |
同等性に関する説明
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| 引用JIS規格 | |
| 引用規格 | |
| 備考 |