JEITA ED-4704A
半導体デバイスのウエハープロセスの信頼性試験方法
Wafer Level Reliability test methods for semiconductor devices
発行年月日:
2011-07-01
状態:
有効
和文 180ページ
41,800 円(税込) 本体価格:38,000円
| ICS | |
|---|---|
| 対応規格 |
同等性に関する説明
|
| 引用JIS規格 | |
| 引用規格 | |
| 備考 | 旧規格:ED-4704 ED-4704-1 |