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JEITA ED-4701/200B
半導体デバイスの環境及び耐久性試験方法 (寿命試験II)
Environmental and endurance test methods for semiconductor devices (Life test II)

規格概要
この規格は半導体デバイスの環境及び耐久性試験方法(寿命試験II)について規定する。
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ICS
対応規格
引用JIS規格
引用規格
備考 旧規格:ED-4701/200 ED-4701/200A
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