JEITA ED-4701/100B
半導体デバイスの環境及び耐久性試験方法 (寿命試験 I)
Environmental and endurance test methods for semiconductor devices (Life test I)
発行年月日:
2023-03-01
状態:
有効
和文 50ページ
13,200 円(税込) 本体価格:12,000円
- 規格概要
-
この規格は半導体デバイスの環境及び耐久性試験方法(寿命試験 I)について規定する。全文を表示する
| ICS | |
|---|---|
| 対応規格 |
同等性に関する説明
|
| 引用JIS規格 | |
| 引用規格 | |
| 備考 | 旧規格:ED-4701/100 ED-4701/100A |