NEWS TOPICS

会員向け情報

規格・書籍・物品

詳細検索する

JEITA ED-4701/100B
半導体デバイスの環境及び耐久性試験方法 (寿命試験 I)
Environmental and endurance test methods for semiconductor devices (Life test I)

規格概要
この規格は半導体デバイスの環境及び耐久性試験方法(寿命試験 I)について規定する。
全文を表示する
ICS
対応規格
引用JIS規格
引用規格
備考 旧規格:ED-4701/100 ED-4701/100A
LOADING...