当該JIS案は、意見受付公告時点での内容であり、審議の結果等によって、変更・修正することがあります。
接続環境によっては表示まで時間がかかることがあります。(そのままお待ちください。)
規格番号 | C61000-4-20 |
---|---|
規格名称 | 電磁両立性-第4-20部:試験及び測定技術-TEM(横方向電磁界)導波管のエミッション及びイミュニティ試験 |
英文名称 | Electromagnetic compatibility (EMC)- Part 4-20: Testing and measurement techniques-Emission and immunity testing in transverse electromagnetic (TEM) waveguides |
概要 | この規格は、様々な種類のTEM導波路を用いた電気・電子装置に対するエミッション及びイミュニティ試験方法について規定したものであるが、最近の生産及び使用の実態を踏まえて、規格内容の充実を図るため、改正を行うものである。 主な改正点は、次のとおりである。 a) 対応国際規格の内容に基づいて,次の内容について追加・変更を行う。 - 試験周波数ステップの変更(5.2.2.1) - 進行波電力一定法及び電界一定法による電界均一性検証のフローチャートの追加(5.4) - 附属書Aにおける各種TEM導波路の図が附属書Dに移動(D.8) - 4ポートTEMセルの図の追加(D.8) - 附属書F(エミッション測定結果における測定装置の不確かさ)の追加 - 附属書G(試験装置によるイミュニティ試験の測定不確かさ)の追加 - 附属書H(EMC試験装置間のエミッション許容値及びイミュニティ限度値の相関)の追加 - 附属書I(TEM導波路の過渡特性評価)の追加 b) 一部の技術的内容の誤り,不正確な記載などを変更に合わせて見直す。 |
JIS案の閲覧 |
JIS案の閲覧はこちらです。※別ウィンドウで開きます。 音声pdfのダウンロードはこちら。 |
基礎として用いた国際規格の番号及び同等性記号 | IDT IEC 61000-4-20:2022, Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4-20: Testing and measurement techniques - Emission and immunity testing in transverse electromagnetic (TEM) waveguides |
ICS分類 | 33.100.10;33.100.20 |
意見を提出される方は、意見提出ボタンをクリックしてください。
なお、頂きましたJIS案へのご意見及びそれに対する回答につきましては、産業標準作成委員会への報告、産業標準作成委員会審議資料の本ホームページでの公開及び当該JISの主務大臣へ報告させていただきます。また、意見の内容に応じ、JIS素案作成団体に転送することがありますので、あらかじめご承知おきください。