当該JIS案は、意見受付公告時点での内容であり、審議の結果等によって、変更・修正することがあります。
接続環境によっては表示まで時間がかかることがあります。(そのままお待ちください。)
規格番号 | C6122-4-1 |
---|---|
規格名称 | 光増幅器-測定方法-第4-1部:過渡パラメータ-二波長法を用いた利得パラメータ測定 |
英文名称 | Optical amplifiers-Test methods-Part 4-1: Transient parameters- Measurement of gain parameters using two-wavelength method |
概要 | この規格は、EDFAを代表とする光増幅器(OA)を含む光サブシステムの、二波長法による過渡パラメータ測定方法について規定するものである。 主な改正点は、次のとおりである。 ・用語及び定義において、一般事項として規定している「過渡応答」などに関しては、測定装置の箇条へ移行する。 ・手順において、同じ規格群のJIS C 6122-4-3に合わせて測定準備及び測定条件で構成する規定に改める。 ・測定結果において、同じ規格群のJIS C 6122-4-3に合わせて測定設定及び測定データで構成する規定に改める。 |
JIS案の閲覧 |
JIS案の閲覧はこちらです。※別ウィンドウで開きます。 音声pdfのダウンロードはこちら。 |
基礎として用いた国際規格の番号及び同等性記号 | IDT IEC 61290-4-1:2016,Optical amplifiers - Test methods - Part 4-1: Gain transient parameters - Two-wavelength method |
ICS分類 | 33.180.30 |
意見を提出される方は、意見提出ボタンをクリックしてください。
なお、頂きましたJIS案へのご意見及びそれに対する回答につきましては、産業標準作成委員会への報告、産業標準作成委員会審議資料の本ホームページでの公開及び当該JISの主務大臣へ報告させていただきます。また、意見の内容に応じ、JIS素案作成団体に転送することがありますので、あらかじめご承知おきください。