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ISO 5618-2(ファインセラミックス(アドバンストセラミックス、アドバンストテクニカルセラミックス) - GaN結晶表面欠陥試験方法 - 第2部:エッチングピット密度の測定方法)

2024/05/07

日本規格協会では経済産業省からの委託で国内審議団体に調査し、
⽇本提案による国際規格(ISO, IEC, ISO/IEC JTC 1)で、ISの発行段階(60.00)に到達した規格に関する最新情報を掲載いたします。

ISO 5618-2(TC206)
ファインセラミックス(アドバンストセラミックス、アドバンストテクニカルセラミックス) - GaN結晶表面欠陥試験方法 - 第2部:エッチングピット密度の測定方法
Fine ceramics (advanced ceramics, advanced technical ceramics) — Test method for GaN crystal surface defects — Part 2: Method for determining etch pit density

発行時期(見込):2024年3月
審議団体:日本ファインセラミックス協会

規格概要
ファインセラミックス(アドバンストセラミックス、アドバンストテクニカルセラミックス) - GaN結晶表面欠陥試験方法 - 第2部:エッチングピット密度の測定方法

[日本規格協会]
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