規格一覧
個別半導体デバイス用語
Terms and definitions for discrete semiconductor devices
発行年月日：
2006-01-01
状態： 有効
和文
プレビュー
19ページ
6,380 円（税込） 本体価格：5,800円
備考：
旧規格：ED-4002
ダイオードの定格・特性及び試験方法
Essential ratings, characteristics and testing methods for diodes
発行年月日：
2021-05-01
状態： 有効
和文
プレビュー
44ページ
11,880 円（税込） 本体価格：10,800円
備考：
旧規格：ED-4511 ED-4511A ED-4511B
3端子サイリスタの定格・特性及び試験方法
Essential ratings characteristics and testing methods for thyristors
発行年月日：
1994-01-01
状態： 有効
和文
プレビュー
75ページ
18,700 円（税込） 本体価格：17,000円
備考：
スタビライズド：2019-01-01
旧規格：SD-11 SD-21
ターンオフサイリスタの定格・特性及び試験方法
Essential ratings characteristics and testing methods for turn off thyristors
発行年月日：
1995-01-01
状態： 有効
和文
プレビュー
74ページ
18,480 円（税込） 本体価格：16,800円
備考：
スタビライズド：2019-01-01
パワートランジスタの定格・特性及び試験方法
Essential ratings characteristics and testing methods for high power transistors
発行年月日：
1999-08-01
状態： 有効
和文
プレビュー
90ページ
22,000 円（税込） 本体価格：20,000円
備考：
スタビライズド：2015-06-01
旧規格：ED-4541
電界効果パワートランジスタの定格・特性及び試験方法
Essential ratings characteristics and testing methods for high power field effect transistors
発行年月日：
2018-02-01
状態： 有効
和文
プレビュー
146ページ
34,320 円（税込） 本体価格：31,200円
備考：
旧規格：ED-4561 ED-4561A
絶縁ゲートバイポーラトランジスタの定格・特性及び試験方法
Essential ratings, characteristics and testing methods for insulated gate bipolar transistors
発行年月日：
2016-03-01
状態： 有効
和文
プレビュー
136ページ
32,120 円（税込） 本体価格：29,200円
備考：
旧規格：ED-4562 ED-4562A
発光ダイオード
Light Emitting Diodes
発行年月日：
2024-03-01
状態： 有効
和文
プレビュー
76ページ
18,920 円（税込） 本体価格：17,200円
別途お問合せ下さい。
備考：
旧規格：ED-4912 ED-4912A
リードレス形シリコンダイオード
Leadless Silicon Diodes
発行年月日：
2011-06-01
状態： 有効
和文
プレビュー
37ページ
10,340 円（税込） 本体価格：9,400円
備考：
旧規格：ED-4131 ED-4132 ED-4133 ED-4134
小信号ダイオード,小信号トランジスタ及び個別半導体デバイスの形名
Small-signal Diodes,Small-signal Transistors and Type designation system for discrete semiconductor devices
発行年月日：
2011-06-01
状態： 有効
和文
プレビュー
39ページ
10,780 円（税込） 本体価格：9,800円
備考：
旧規格：ED-4001A ED-4121 ED-4122
LED及びフォトカプラ用語
Terms and Definitions for LEDs and Photocouplers
発行年月日：
2015-03-01
状態： 有効
和文
プレビュー
22ページ
7,040 円（税込） 本体価格：6,400円
備考：
