過去の委員会配布資料
第32回 電子分野 配布資料
| 番号 | 資料名 | 資料 | JIS案 |
|---|---|---|---|
| 1 | 第32回電子分野産業標準作成委員会 議事次第 | ||
| 2 | 資料1 電子分野産業標準作成委員会委員名簿 | ||
| 3 | 資料2 委員長の選出について | ||
| 4 | 資料3 産業標準案作成対象テーマの審議について | ||
| 5 | 資料4 産業標準案の作成及び審議について | ||
| 6 | 資料5 制定 C61757-2-2 光ファイバセンサ－第 2-2 部：温度測定－分布型センシング | ||
| 7 | 資料6 改正 C5101-11 電子機器用固定コンデンサ－第 11 部：品種別通則：固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直流コンデンサ | ||
| 8 | 資料7 改正 C5201-8 電子機器用固定抵抗器－第 8 部：品種別通則：表面実装用固定抵抗器 | ||
| 9 | 資料8 改正 C5260-3 電子機器用可変抵抗器－第 3 部：品種別通則：回転形精密級可変抵抗器 | ||
| 10 | 資料9 改正 C5402-1-100 電気・電子機器用コネクタ－試験及び測定－第 1-100 部：一般－JIS C 5402 規格群一覧 | ||
| 11 | 資料10 改正 C5402-23-3 電気・電子機器用コネクタ－試験及び測定－第 23-3 部：スクリーニング及びフィルタリング試験－試験 23c：コネクタ及びアクセサリのシールド効果 | ||
| 12 | 資料11 改正 C5916-3 光ファイバ形分散補償器 | ||
| 13 | 資料12 改正 C6122-3-2 光増幅器－測定方法－第 3-2 部：雑音指数パラメータ－電気スペクトラムアナライザ試験方法 | ||
| 14 | 資料13 改正 C6122-4-1 光増幅器－測定方法－第4-1 部：過渡パラメータ－二波長法を用いた利得パラメータ測定 | ||
| 15 | 資料14 改正 C6122-4-3 光増幅器－測定方法－第 4-3 部：過渡パラメータ －パワー制御単一チャネル光増幅器のパワーパラメータ測定 | ||
| 16 | 資料15 産業標準案への委員コメント及び対応結果 |
