意見受付公告（JIS）規格情報

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当該JISは、廃止を予定しています。廃止を予定する理由は、廃止の理由欄に記載のとおりです。

意見受付公告（JIS）規格情報

規格番号	C5991
規格名称	光伝送用フォトダイオード測定方法
廃止の理由	この規格は，光伝送用フォトダイオード（電子回路内蔵形を除く。）の測定方法について規定している。この規格の対応国際規格IEC 60747-5:1992（Semiconductor devices， Discrete devices and integrated circuits - Part 5: Optoelectronic devices）であるが，この中にあった光伝送用フォトダイオードの測定方法について，基本特性測定方法はIEC 60747-5-7（Semiconductor devices - Part 5-7: Optoelectronic devices - Photodiodes and phototransistors 2016年制定）に，光伝送用に特化した測定方法は光伝送用半導体部品の測定方法を集めたIEC 62007-2（Semiconductor optoelectronic devices for fibre optic system applications - Part 2: Measuring methods 1997年制定 2009年改訂）に包含された。IEC 62007-2では，光伝送用フォトダイオード以外に光伝送用半導体レーザ，光伝送用半導体レーザモジュール及び光伝送用発光ダイオードを，発光デバイスと受光デバイスという分類で纏めて記載している。IEC 62007-2制定の際に光伝送用フォトダイオードの基本特性測定方法はIEC 60747-5に残され，2006年にIEC 60747-5はIEC 60747-5-6に置き換えられた。このため，IEC規格ではIEC 60747-5-7に規定されている基本特性測定方法とIEC 62007-2に規定されている測定方法を共に参照する必要がある。　また，JISにおける光伝送用半導体部品の測定方法は，JIS C 5991（光伝送用フォトダイオード測定方法）に加え，JIS C 5941（光伝送用半導体レーザ測定方法），JIS C 5945（光伝送用半導体レーザモジュール測定方法），及びJIS C 5951（光伝送用発光ダイオード測定方法）がIEC 60747-5に対応している。　このようにIEC規格とJISとの対応関係に不整合が生じており，規格利用者の混乱を避けるとともに１つの規格とすることで利便性を向上させるため，現行規格JIS C 5941，JIS C 5945，JIS C 5951及びJIS C 5991を包含し，現行IEC規格と整合した測定方法を新たにJIS C 5954-8として制定する。これに伴い重複するJIS C 5991は廃止とする。

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なお、頂きましたJIS案へのご意見及びそれに対する回答につきましては、産業標準作成委員会への報告、産業標準作成委員会審議資料の本ホームページでの公開及び当該JISの主務大臣へ報告させていただきます。また、意見の内容に応じ、JIS素案作成団体に転送することがありますので、あらかじめご承知おきください。