ISO 9455-17（はんだ付け用フラックス－試験方法－第17部：フラックス浅さの，くし形電極による表面絶縁抵抗試験及び電気化学的マイグレーション試験）
2024/02/02
日本規格協会では経済産業省からの委託で国内審議団体に調査し、
⽇本提案による国際規格(ISO, IEC, ISO/IEC JTC 1)で、ISの発行段階（60.00）に到達した規格に関する最新情報を掲載いたします。
ISO 9455-17:2024
はんだ付け用フラックス－試験方法－第17部：フラックス浅さの，くし形電極による表面絶縁抵抗試験及び電気化学的マイグレーション試験
Soft soldering fluxes -- Test methods -- Part 17: Surface insulation resistance comb test and electrochemical migration test of flux residues
発行時期：2024年1月10日
審議団体：(一社)日本溶接協会
規格概要
フラックス残渣の電気的信頼性試験方法
ご紹介
この試験は、はんだ付後のフラックス残渣の高温恒湿環境下における絶縁抵抗値を測定する方法です。
[日本規格協会]
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