過去の委員会配布資料
第36回 電子分野 配布資料
| 番号 | 資料名 | 資料 | JIS案 |
|---|---|---|---|
| 1 | 第36回電子分野産業標準作成委員会 議事次第 | ||
| 2 | 資料1 電子分野産業標準作成委員会委員名簿 | ||
| 3 | 資料2 産業標準案作成対象テーマの審議について | ||
| 4 | 資料3 産業標準案の作成及び審議について | ||
| 5 | 資料4 制定 C5381-332 低圧サージ防護部品－第３３２部：金属酸化物バリスタ（ＭＯＶ）の選定及び適用基準 | ||
| 6 | 資料5 制定 C61280-4-1 光ファイバ通信サブシステム試験方法－第4-1部：敷設済みケーブル設備－マルチモード減衰量測定 | ||
| 7 | 資料6 改正 C5101-8 電子機器用固定コンデンサ－第８部：品種別通則：固定磁器コンデンサ種類１ | ||
| 8 | 資料7 改正 C5101-9 電子機器用固定コンデンサ－第９部：品種別通則：固定磁器コンデンサ 種類２ | ||
| 9 | 資料8 改正 C5101-21 電子機器用固定コンデンサ－第２１部：品種別通則：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類１ | ||
| 10 | 資料9 改正 C5101-22 電子機器用固定コンデンサ－第２２部：品種別通則：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類２ | ||
| 11 | 資料10 改正 C5160-2 電気及び電子機器用固定電気二重層コンデンサ－第２部：パワー用電気二重層コンデンサ | ||
| 12 | 資料11 改正 C62813 電気・電子機器用リチウムイオンキャパシタ－電気的特性の試験方法 | ||
| 13 | 資料12 改正 C62024-1 高周波誘導部品－電気的特性及び測定方法－第１部：ナノヘンリー範囲の表面実装インダクタ | ||
| 14 | 資料13 改正 C60068-2-43 環境試験方法－電気・電子－第２－４３部：接点及び接続部の硫化水素試験方法（試験記号：Ｋｄ） | ||
| 15 | 資料14 改正 C6122-5-1 光増幅器－測定方法－第５－１部：光反射率パラメータ－光スペクトラムアナライザ法 | ||
| 16 | 資料15 廃止 C5101-8-1 電子機器用固定コンデンサ－第８－１部：ブランク個別規格：固定磁器コンデンサ 種類１ 評価水準ＥＺ | ||
| 17 | 資料16 廃止 C5101-9-1 電子機器用固定コンデンサ－第９－１部：ブランク個別規格：固定磁器コンデンサ 種類２ 評価水準ＥＺ | ||
| 18 | 資料17 廃止 C5101-21-1 電子機器用固定コンデンサ－第２１－１部：ブランク個別規格：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類１ 評価水準ＥＺ | ||
| 19 | 資料18 廃止 C5101-22-1 電子機器用固定コンデンサ－第２２－１部：ブランク個別規格：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類２ 評価水準ＥＺ | ||
| 20 | 資料19 産業標準案への委員コメント及び対応結果 |
