| 規格番号 /コード |
商品名 | 言語 | 媒体 | 単価 (税抜) |
数量 | 小計 (税抜) |
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|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 規格 | JIS K 0156:2018 |
JIS K 0156:2018
表面化学分析―二次イオン質量分析法―デルタ多層標準物質を用いたシリコンの深さ校正方法 |
和文 |
 冊子 |
￥ 3,000 | ￥ 3,000 | |||
| 規格 | JIS K 0150:2020 |
JIS K 0150:2020
表面化学分析―亜鉛及び／又はアルミニウム基金属めっきのグロー放電発光分光分析方法 |
和文 |
冊子 |
￥ 4,300 | ￥ 4,300 | |||
| 規格 | JIS K 0149-1:2019 |
JIS K 0149-1:2019
マイクロビーム分析―走査電子顕微法―第１部：像倍率校正方法 |
和文 |
冊子 |
￥ 2,600 | ￥ 2,600 | |||
| 規格 | JIS K 0182:2023 |
JIS K 0182:2023
表面化学分析―走査型プローブ顕微鏡―カンチレバーの垂直ばね定数の決定方法 |
和文 |
冊子 |
￥ 3,600 | ￥ 3,600 | |||
| 10%対象小計 | ￥ 13,500 | ||||||||
| 消費税額（10%） | ￥ 1,350 | ||||||||
| 合計 （税込） | ￥ 14,850 | ||||||||
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