| 規格番号 /コード |
商品名 | 言語 | 媒体 | 単価 (税抜) |
数量 | 小計 (税抜) |
削除 | ||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 規格 | JIS K 3810-1:2003/AMENDMENT 1:2006 |
英訳JIS K 3810-1:2003/AMD 1:2006
マイコプラズマの検出法―第1部:培養による直接検出法(追補1) |
英訳 |
|
¥ 1,500 | 1 | ¥ 1,500 | ||
| 規格 | JIS K 3701:2008 |
JIS K 3701:2008
培地の試験方法―通則 |
和文 |
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¥ 4,100 | ¥ 4,100 | |||
| 規格 | JIS C 8147-2-7:2014 |
JIS C 8147-2-7:2014
ランプ制御装置―第2-7部:非常時照明用制御装置の個別要求事項 |
和文 |
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¥ 4,300 | ¥ 4,300 | |||
| 10%対象小計 | ¥ 9,900 | ||||||||
| 消費税額(10%) | ¥ 990 | ||||||||
| 合計 (税込) | ¥ 10,890 | ||||||||
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