| 規格番号 /コード |
商品名 | 言語 | 媒体 | 単価 (税抜) |
数量 | 小計 (税抜) |
削除 | ||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 規格 | JEITA EDR-4705C |
JEITA EDR-4705C
ソフトエラー試験ガイドライン (SEB:シングルイベントバーンアウトの最新情報に関しては、EDR-4714中性子SEB試験ガイドラインを参照願います) |
和文 |
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¥ 9,800 | ¥ 9,800 | |||
| 規格 | JEITA ED-4701/600A |
英訳JEITA ED-4701/600A
半導体デバイスの環境及び耐久性試験方法(個別半導体特有の試験) |
英訳 |
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¥ 7,600 | ¥ 7,600 | |||
| 規格 | JEITA ED-4701/600A |
JEITA ED-4701/600A
半導体デバイスの環境及び耐久性試験方法(個別半導体特有の試験) |
和文 |
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¥ 7,400 | ¥ 7,400 | |||
| 10%対象小計 | ¥ 24,800 | ||||||||
| 消費税額(10%) | ¥ 2,480 | ||||||||
| 合計 (税込) | ¥ 27,280 | ||||||||
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