| 規格番号 /コード |
商品名 | 言語 | 媒体 | 単価 (税抜) |
数量 | 小計 (税抜) |
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|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 規格 | JEITA EDR-4705B |
JEITA EDR-4705B
ソフトエラー試験ガイドライン (SEB:シングルイベントバーンアウトの最新情報に関しては、EDR-4714中性子SEB試験ガイドラインを参照願います) |
和文 |
 冊子 |
￥ 10,000 | ￥ 10,000 | |||
| 規格 | JEITA EDR-4709A |
JEITA EDR-4709A
システムレベルESDに対応した半導体のESD試験方法検討とシステムへの半導体部品実装方法,取り扱いガイドライン |
和文 |
冊子 |
￥ 26,800 | ￥ 26,800 | |||
| 規格 | JEITA EDR-4712/100 |
JEITA EDR-4712/100
SiCウェーハの結晶欠陥の非破壊検査方法 (Part 1：結晶欠陥の分類) |
和文 |
冊子 |
￥ 8,000 | ￥ 8,000 | |||
| 規格 | JEITA ED-4701/600 |
JEITA ED-4701/600
半導体デバイスの環境及び耐久性試験方法(個別半導体特有の試験) |
和文 |
冊子 |
￥ 8,400 | ￥ 8,400 | |||
| 規格 | JEITA ED-4701/002 |
JEITA ED-4701/002
寿命試験の試験時間，試験個数の決定手順 |
和文 |
冊子 |
￥ 9,200 | ￥ 9,200 | |||
| 規格 | JEITA ETR-7028 |
JEITA ETR-7028
第2世代リフロー用ソルダペースト標準化プロジェクト活動最終報告 |
和文 |
冊子 |
￥ 13,000 | ￥ 13,000 | |||
| 規格 | JEITA ETR-7031 |
JEITA ETR-7031
錫銀銅（Sn-Ag-Cu）系はんだ合金の接合部の寿命予測に関する実証実験報告 |
和文 |
冊子 |
￥ 6,800 | ￥ 6,800 | |||
| 規格 | JEITA ETR-7023 |
JEITA ETR-7023
第２世代フロー用はんだ標準プロジェクト活動結果報告 |
和文 |
冊子 |
￥ 18,400 | ￥ 18,400 | |||
| 規格 | JEITA ED-4701/200B |
JEITA ED-4701/200B
半導体デバイスの環境及び耐久性試験方法 (寿命試験II) |
和文 |
冊子 |
￥ 8,000 | ￥ 8,000 | |||
| 10%対象小計 | ￥ 108,600 | ||||||||
| 消費税額（10%） | ￥ 10,860 | ||||||||
| 合計 （税込） | ￥ 119,460 | ||||||||
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