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バッグ(規格・書籍・物品)

規格番号
/コード
商品名 言語 媒体 単価
(税抜)
数量 小計
(税抜)
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規格 ISO 17331:2004 ISO 17331:2004
・表面化学分析-シリコンウェーハの基礎となる標準物質の表面からの元素の収集のための化学的方法及び全反射蛍光X線(TXRF)分光分析法によるその定量
原本 冊子 ¥ 20,500 ¥ 20,500
規格 ISO 16962:2017 ISO 16962:2017
表面化学分析-グロー放電光学発光分光分析による亜鉛及び/又はアルミニウムベースの金属被覆
原本 冊子 ¥ 37,105 ¥ 37,105
規格 ISO 20341:2003 ISO 20341:2003
表面化学分析-二次イオン質量分析法-複数デルタ層基準材料を用いた深度分解能パラメータの推定方法
原本 冊子 ¥ 9,020 ¥ 9,020
10%対象小計 ¥ 66,625
消費税額(10%) ¥ 6,662
合計 (税込) ¥ 73,287

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