| 規格番号 /コード |
商品名 | 言語 | 媒体 | 単価 (税抜) |
数量 | 小計 (税抜) |
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|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 規格 | ISO 11952:2019 |
ISO 11952:2019
表面化学分析－走査型プローブ顕微鏡法－SPMを使用する幾何学量の定量：測定システムの校正 |
原本 |
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￥ 40,800 | 1 | ￥ 40,800 | ||
| 規格 | ISO 17331:2004 |
ISO 17331:2004
・表面化学分析－シリコンウェーハの基礎となる標準物質の表面からの元素の収集のための化学的方法及び全反射蛍光X線(TXRF)分光分析法によるその定量 |
原本 |
 冊子 |
￥ 20,000 | ￥ 20,000 | |||
| 規格 | ISO 16962:2017 |
ISO 16962:2017
表面化学分析－グロー放電光学発光分光分析による亜鉛及び/又はアルミニウムベースの金属被覆 |
原本 |
冊子 |
￥ 36,200 | ￥ 36,200 | |||
| 10%対象小計 | ￥ 97,000 | ||||||||
| 消費税額（10%） | ￥ 9,700 | ||||||||
| 合計 （税込） | ￥ 106,700 | ||||||||
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