| 規格番号 /コード |
商品名 | 言語 | 媒体 | 単価 (税抜) |
数量 | 小計 (税抜) |
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|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 規格 | ISO 17862:2022 |
ISO 17862:2022
表面化学分析-二次イオン質量分析法-単一イオン計数飛行時間型分析器の強度スケールの線形性 |
原本 |
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¥ 20,500 | ¥ 20,500 | |||
| 規格 | ISO 11952:2019 |
ISO 11952:2019
表面化学分析-走査型プローブ顕微鏡法-SPMを使用する幾何学量の定量:測定システムの校正 |
原本 |
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¥ 41,820 | ¥ 41,820 | |||
| 規格 | ISO/TS 18507:2015 |
ISO/TS 18507:2015
表面化学分析-生物学的及び環境的分析における全反射X線蛍光分光法の使用 |
原本 |
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¥ 32,595 | ¥ 32,595 | |||
| 10%対象小計 | ¥ 94,915 | ||||||||
| 消費税額(10%) | ¥ 9,491 | ||||||||
| 合計 (税込) | ¥ 104,406 | ||||||||
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