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バッグ(規格・書籍・物品)

規格番号
/コード
商品名 言語 媒体 単価
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数量 小計
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規格 IEC 63275-1 Ed. 1.0:2022 IEC 63275-1 Ed. 1.0:2022
半導体素子-炭化ケイ素ディスクリート金属酸化物半導体電界効果トランジスタの信頼性試験方法-第1部:バイアス温度不安定性の試験方法
原本 冊子 ¥ 15,200 ¥ 15,200
10%対象小計 ¥ 15,200
消費税額(10%) ¥ 1,520
合計 (税込) ¥ 16,720

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