| 規格番号 /コード |
商品名 | 言語 | 媒体 | 単価 (税抜) |
数量 | 小計 (税抜) |
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|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 規格 | JIS K 0160:2026 |
JIS K 0160:2026
表面化学分析－シリコンウェーハ表面からの金属の化学的回収方法及び全反射蛍光Ｘ線（ＴＸＲＦ）分析法による定量方法 |
和文 |
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￥ 7,200 | 1 | ￥ 7,200 | ||
| 規格 | JIS K 0155:2025 |
JIS K 0155:2025
表面化学分析－二次イオン質量分析法－単一イオン計数飛行時間形質量分析器における強度軸の線形性 |
和文 |
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￥ 7,200 | 1 | ￥ 7,200 | ||
| 規格 | JIS K 0158:2021 |
JIS K 0158:2021
表面化学分析―二次イオン質量分析法―単一イオン計測ダイナミック二次イオン質量分析法における飽和強度の補正法 |
和文 |
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￥ 3,000 | 1 | ￥ 3,000 | ||
| 規格 | JIS K 0143:2023 |
JIS K 0143:2023
表面化学分析―二次イオン質量分析法―シリコン中に均一に添加されたボロンの原子濃度の定量方法 |
和文 |
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￥ 3,000 | 1 | ￥ 3,000 | ||
| 10%対象小計 | ￥ 20,400 | ||||||||
| 消費税額（10%） | ￥ 2,040 | ||||||||
| 合計 （税込） | ￥ 22,440 | ||||||||
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