| 規格番号 /コード |
商品名 | 言語 | 媒体 | 単価 (税抜) |
数量 | 小計 (税抜) |
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|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 規格 | ISO 11775:2015 |
ISO 11775:2015
表面化学分析－走査型プローブ顕微鏡法－片持ち式標準ばね定数の求め方 |
原本 |
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￥ 27,675 | 1 | ￥ 27,675 | ||
| 規格 | ISO 17974:2002 |
ISO 17974:2002
表面化学分析－高解像度オージェ電子分光計－元素及び化学的状態分析のエネルギー目盛りの校正 |
原本 |
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￥ 32,595 | 1 | ￥ 32,595 | ||
| 規格 | ISO 14975:2000 |
ISO 14975:2000
・表面化学分析－情報フォーマット |
原本 |
 冊子 |
￥ 20,500 | ￥ 20,500 | |||
| 規格 | ISO 17862:2022 |
ISO 17862:2022
表面化学分析－二次イオン質量分析法－単一イオン計数飛行時間型分析器の強度スケールの線形性 |
原本 |
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￥ 20,500 | 1 | ￥ 20,500 | ||
| 10%対象小計 | ￥ 101,270 | ||||||||
| 消費税額（10%） | ￥ 10,127 | ||||||||
| 合計 （税込） | ￥ 111,397 | ||||||||
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