| 規格番号 /コード |
商品名 | 言語 | 媒体 | 単価 (税抜) |
数量 | 小計 (税抜) |
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|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 規格 | ISO 16700:2016 |
ISO 16700:2016
マイクロビーム分析－電子走査顕微鏡法－映像倍率校正の指針 |
原本 |
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￥ 20,000 | 1 | ￥ 20,000 | ||
| 規格 | ISO 14706:2014 |
ISO 14706:2014
・表面化学分析－全反射蛍光X線分光法によるシリコンウェハの表面元素汚染の測定法 |
原本 |
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￥ 27,000 | 1 | ￥ 27,000 | ||
| 規格 | ISO 24237:2005 |
ISO 24237:2005
・表面化学分析－X線光電子分光法－強度計の併行精度及び不変性 |
原本 |
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￥ 13,400 | 1 | ￥ 13,400 | ||
| 規格 | ISO 14237:2010 |
ISO 14237:2010
・表面化学分析－二次イオン質量分析法－シリコン中に均一に添加されたボロンの原子濃度の定量方法 |
原本 |
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￥ 27,000 | 1 | ￥ 27,000 | ||
| 10%対象小計 | ￥ 87,400 | ||||||||
| 消費税額（10%） | ￥ 8,740 | ||||||||
| 合計 （税込） | ￥ 96,140 | ||||||||
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