ISO 16531:2020
表面化学分析-深さ方向分析-イオンビームアライメントの方法及びAES及びXPSにおける深さ方向分析のための電流又は電流密度の関連測定方
Surface chemical analysis -- Depth profiling -- Methods for ion beam alignment and the associated measurement of current or current density for depth profiling in AES and XPS
発行年月日:
2020-10-05
状態:
有効
邦訳版:
無
英語 19ページ
24,832 円(税込) 本体価格:22,575円
TC |
ISO/TC 201/SC 4 |
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ICS |
71.040.40 |
対応JIS規格 |
同等性に関する説明
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備考 |