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BS EN IEC 60749-5:2024 - TC
変更履歴-半導体素子-機械及び耐候試験方法-第5部:定常温度湿度かたより試験
Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods - Steady-state temperature humidity bias life test

発行年月日: 2024-02-09
状態: 有効
邦訳版: 無

移行先
移行元 BS EN 60749-5:2017 - TC
ICS 31.080.01
対応国際規格
備考 Tracked Changesについてはこちら
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