BS EN IEC 60749-5:2024
半導体素子-機械及び耐候試験方法-第5部:定常温度湿度かたより試験
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods - Steady-state temperature humidity bias life test
発行年月日:
2024-02-06
状態:
有効
邦訳版:
無
英語 14ページ
36,300 円(税込) 本体価格:33,000円
移行先 | |
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移行元 | BS EN 60749-5:2017 |
ICS |
31.080.01 |
対応国際規格 |
EN 60749-5 Ed.3.0, IEC 60749-5 Ed.3.0
同等性に関する説明
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備考 |