TS Z 0031:2012
高分子材料中の空孔評価のための陽電子消滅寿命測定方法
Method of positron annihilation lifetime measurements for characterizing holes in polymer materials
発行年月日:
2012-04-20
廃止年月日:
2018-03-20
状態:
廃止
- 規格概要
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β+崩壊性放射性同位元素であるナトリウム-22(22Na)を陽電子線源として用いた,オルトポジトロニウムの消滅成分が観測される高分子材料を対象とした寿命測定方法において,3光子自己消滅の寄与が比較的小さく,高分子材料中で通常観測されるオルトポジトロニウムの平均寿命にして1ns~10ns(空間の大きさにして0.3nm~1.3nm程度)の陽電子寿命を測定する方法について規定。全文を表示する
公示の種類 | 廃止 |
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履歴 |
2012-04-20 公表 2015-03-20 継続 2018-03-20 廃止
履歴に関する説明JISは、産業標準化法に基づき、主務大臣が必要と認め制定する国家規格です。JISの制定、確認又は改正の日から5年を経過する日までに、それがなお適正であるか見直しが行われ、主務大臣が確認、改正又は廃止を行います。
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廃止理由 | 有効期限が切れたため |
移行先 | |
原案作成団体 |
国立研究開発法人 産業技術総合研究所 |
ICS |
83.080.01 |
対応国際規格 |
同等性に関する説明
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引用JIS規格 | |
引用国際規格 | |
備考 |