NEWS TOPICS

会員向け情報

規格・書籍・物品

詳細検索する

TS Z 0031:2012
高分子材料中の空孔評価のための陽電子消滅寿命測定方法
Method of positron annihilation lifetime measurements for characterizing holes in polymer materials

規格概要
β+崩壊性放射性同位元素であるナトリウム-22(22Na)を陽電子線源として用いた,オルトポジトロニウムの消滅成分が観測される高分子材料を対象とした寿命測定方法において,3光子自己消滅の寄与が比較的小さく,高分子材料中で通常観測されるオルトポジトロニウムの平均寿命にして1ns~10ns(空間の大きさにして0.3nm~1.3nm程度)の陽電子寿命を測定する方法について規定。
全文を表示する
公示の種類 廃止
履歴 2012-04-20 公表
2015-03-20 継続
2018-03-20 廃止
廃止理由 有効期限が切れたため
移行先
原案作成団体 国立研究開発法人 産業技術総合研究所
ICS 83.080.01
対応国際規格
引用JIS規格
引用国際規格
備考
LOADING...