JIS Z 4752-2-9:2008
医用画像部門における品質維持の評価及び日常試験方法―第2-9部:不変性試験―間接透視及び間接撮影用X線装置
Evaluation and routine testing in medical imaging departments -- Part 2-9: Constancy tests -- Equipment for indirect radioscopy and indirect radiography
発行年月日:
2008-07-01
確認年月日:
2023-10-25
状態:
有効
和文 16ページ
2,420 円(税込) 本体価格:2,200円
- プレビュー
- 和文(PDF)
- 規格概要
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診断用X線装置の様々な構成品の作動についての不変性試験方法について規定。また,JIS Z 4752-1に規定する診断用X線装置の特性を維持するための試験方法についても規定。全文を表示する
公示の種類 | 確認 |
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履歴 |
2008-06-25 制定 2013-10-25 確認 2018-10-25 確認 2023-10-25 確認
履歴に関する説明JISは、産業標準化法に基づき、主務大臣が必要と認め制定する国家規格です。JISの制定、確認又は改正の日から5年を経過する日までに、それがなお適正であるか見直しが行われ、主務大臣が確認、改正又は廃止を行います。
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原案作成団体 |
一般財団法人 日本規格協会 公益社団法人 日本放射線技術学会 |
ICS |
11.040.50 |
対応国際規格 |
IEC 61223-2-9:1999 (IDT)
同等性に関する説明
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引用JIS規格 | Z4005 , Z4752-1 , Z4752-2-1 , Z4752-2-2 , Z4752-2-3 , Z4752-2-5 |
引用国際規格 |
IEC 61223-2-4:1994 |
ハンドブック |
医療機器 I:2021 |
備考 | |
正誤票・訂正票 |