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JIS Z 4752-2-9:2008
医用画像部門における品質維持の評価及び日常試験方法―第2-9部:不変性試験―間接透視及び間接撮影用X線装置
Evaluation and routine testing in medical imaging departments -- Part 2-9: Constancy tests -- Equipment for indirect radioscopy and indirect radiography

発行年月日: 2008-07-01
確認年月日: 2023-10-25
状態: 有効

プレビュー
和文(PDF)
規格概要
診断用X線装置の様々な構成品の作動についての不変性試験方法について規定。また,JIS Z 4752-1に規定する診断用X線装置の特性を維持するための試験方法についても規定。
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公示の種類 確認
履歴 2008-06-25 制定
2013-10-25 確認
2018-10-25 確認
2023-10-25 確認
原案作成団体 一般財団法人 日本規格協会
公益社団法人 日本放射線技術学会
ICS 11.040.50
対応国際規格 IEC 61223-2-9:1999 (IDT)
引用JIS規格 Z4005 ,  Z4752-1 ,  Z4752-2-1 ,  Z4752-2-2 ,  Z4752-2-3 ,  Z4752-2-5
引用国際規格 IEC 61223-2-4:1994
ハンドブック 医療機器 I:2021
備考
正誤票・訂正票
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