NEWS TOPICS

会員向け情報

規格・書籍・物品

詳細検索する

JIS Z 4504:2008
放射性表面汚染の測定方法―β線放出核種(最大エネルギー0.15MeV以上)及びα線放出核種
Evaluation of surface contamination -- Beta-emitters (maximum beta energy greater than 0.15 MeV) and alpha-emitters

プレビュー
和文(PDF)
規格概要
物品,施設,線源収納容器,密封線源などの放射性表面汚染を表面汚染密度で評価する方法について規定。皮膚及び衣服については,適用しない。
全文を表示する
公示の種類 廃止
履歴 1958-03-03 制定
1961-03-03 確認
1964-10-01 確認
1968-04-01 確認
1971-03-01 確認
1974-04-01 確認
1975-02-01 改正
1978-02-01 確認
1983-11-01 確認
1989-03-01 確認
1993-10-01 改正
1999-06-20 確認
2005-03-20 確認
2008-01-20 改正
2012-10-22 確認
2017-10-20 確認
2022-10-20 確認
2023-03-20 廃止
廃止理由 切替規格
移行先 JIS Z 4504-1:2023 JIS Z 4504-2:2023 JIS Z 4504-3:2023
原案作成団体 一般財団法人 日本規格協会
一般社団法人 日本電気計測器工業会
ICS 13.280
対応国際規格 ISO 7503-1:1988 (IDT)
引用JIS規格 Z4001 ,  Z4329 ,  Z4334
引用国際規格
備考
LOADING...