JIS K 0199:2023
異なる顕微測定装置間における同一箇所分析のための位置合わせ手順
Guideline for alignment procedure for identical location analysis between different microscopic measuring instruments
発行年月日:
2023-01-20
状態:
有効
和文 14ページ
2,420 円(税込) 本体価格:2,200円
- 規格概要
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複数の異なる顕微測定装置で同一試料を測定する際の,試料の同一箇所を分析するための手順について規定。基準点となるアライメントマーカーが刻まれた試料ホルダーを,複数の異なる顕微測定装置で共通に用いて,同一試料の微視的領域の同一箇所を分析するために必要な手順を分析担当者に対して示すことを目的とする。ここで,顕微測定装置とは,電子顕微鏡,光学顕微鏡,走査型プローブ顕微鏡など顕微観察機能をもつ測定装置をいう。ただし,試料移動ステージの位置座標が読み取れず,アライメントマーカーを基にした分析箇所の番地指定ができない顕微測定装置には適用しない。また,二次元平面上の位置合わせに適用するものとし,三次元の位置合わせには適用しない。全文を表示する
公示の種類 | 制定 |
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履歴 |
2023-01-20 制定
履歴に関する説明JISは、産業標準化法に基づき、主務大臣が必要と認め制定する国家規格です。JISの制定、確認又は改正の日から5年を経過する日までに、それがなお適正であるか見直しが行われ、主務大臣が確認、改正又は廃止を行います。
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原案作成団体 |
一般財団法人 日本規格協会 一般社団法人 日本分析機器工業会 |
ICS |
71.040.40 |
対応国際規格 |
同等性に関する説明
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引用JIS規格 | K0147-1 , K0147-2 |
引用国際規格 | |
ハンドブック |
化学分析:2025 |
備考 | |
正誤票・訂正票 |