JIS K 0190:2010
マイクロビーム分析―電子プローブマイクロ分析―波長分散X線分光法による点分析における定性分析のための指針
Microbeam analysis -- Electron probe microanalysis -- Guidelines for qualitative point analysis by wavelength dispersive X-ray spectrometry
発行年月日:
2010-04-20
確認年月日:
2020-10-20
状態:
有効
和文 12ページ
2,420 円(税込) 本体価格:2,200円
- 規格概要
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電子プローブマイクロアナライザ又は走査電子顕微鏡に装着した,波長分散X線分光器を用いて取得したX線スペクトルを解析することによって,試料の数μm*3程度の体積中にある元素の同定及び特定元素の存在の有無を判定するための指針を示す。全文を表示する
公示の種類 | 確認 |
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履歴 |
2010-04-20 制定 2015-10-20 確認 2020-10-20 確認
履歴に関する説明JISは、産業標準化法に基づき、主務大臣が必要と認め制定する国家規格です。JISの制定、確認又は改正の日から5年を経過する日までに、それがなお適正であるか見直しが行われ、主務大臣が確認、改正又は廃止を行います。
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原案作成団体 |
一般社団法人 表面化学分析技術国際標準化委員会 |
ICS |
71.040.99 |
対応国際規格 |
ISO 17470:2004 (MOD)
同等性に関する説明
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引用JIS規格 | |
引用国際規格 |
ISO 14594:2003 |
ハンドブック |
化学分析:2025 |
備考 | |
正誤票・訂正票 |