NEWS TOPICS

会員向け情報

規格・書籍・物品

詳細検索する

JIS K 0190:2010
マイクロビーム分析―電子プローブマイクロ分析―波長分散X線分光法による点分析における定性分析のための指針
Microbeam analysis -- Electron probe microanalysis -- Guidelines for qualitative point analysis by wavelength dispersive X-ray spectrometry

発行年月日: 2010-04-20
確認年月日: 2020-10-20
状態: 有効

規格概要
電子プローブマイクロアナライザ又は走査電子顕微鏡に装着した,波長分散X線分光器を用いて取得したX線スペクトルを解析することによって,試料の数μm*3程度の体積中にある元素の同定及び特定元素の存在の有無を判定するための指針を示す。
全文を表示する
公示の種類 確認
履歴 2010-04-20 制定
2015-10-20 確認
2020-10-20 確認
原案作成団体 一般社団法人 表面化学分析技術国際標準化委員会
ICS 71.040.99
対応国際規格 ISO 17470:2004 (MOD)
引用JIS規格
引用国際規格 ISO 14594:2003
ハンドブック 化学分析:2025
備考
正誤票・訂正票
LOADING...