JIS K 0189:2013
マイクロビーム分析―電子プローブマイクロ分析―波長分散X線分光法のパラメータの決定方法
Microbeam analysis -- Electron probe microanalysis -- Determination of experimental parameters for wavelength dispersive X-ray spectroscopy
発行年月日:
2013-07-22
確認年月日:
2023-10-20
状態:
有効
和文 18ページ
2,420 円(税込) 本体価格:2,200円
- プレビュー
- 和文(PDF)
- 規格概要
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電子プローブマイクロ分析(EPMA)を行う上で考慮しなければならない電子プローブ,波長分散X線分光器及び試料に関する測定パラメータの決定方法について規定。特に,プローブ電流,プローブ電流密度,不感時間,波長分解能,バックグラウンド,分析面積,分析深さ及び分析体積の決定のための手順についても規定。エネルギー分散X線分光器には適用しない。全文を表示する
公示の種類 | 確認 |
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履歴 |
2013-07-22 制定 2018-10-22 確認 2023-10-20 確認
履歴に関する説明JISは、産業標準化法に基づき、主務大臣が必要と認め制定する国家規格です。JISの制定、確認又は改正の日から5年を経過する日までに、それがなお適正であるか見直しが行われ、主務大臣が確認、改正又は廃止を行います。
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原案作成団体 |
一般社団法人 表面化学分析技術国際標準化委員会 |
ICS |
71.040.50 |
対応国際規格 |
ISO 14594:2003 (MOD)
同等性に関する説明
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引用JIS規格 | Q17025 |
引用国際規格 | |
ハンドブック |
化学分析:2025 |
備考 | |
正誤票・訂正票 |