JIS K 0168:2011
表面化学分析―スタティック二次イオン質量分析法の情報フォーマット
Surface chemical analysis -- Information format for static secondary-ion mass spectrometry
発行年月日:
2011-03-22
確認年月日:
2020-10-20
状態:
有効
和文 12ページ
2,420 円(税込) 本体価格:2,200円
- 規格概要
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スタティック二次イオン質量分析法(SIMS)の分析装置から得られるスペクトルデータファイルを有効利用するのに必要な校正及び装置パラメータの重要なデータを,簡便に保存し,かつ,コンピュータ間で転送するデジタル情報フォーマットについて規定。全文を表示する
公示の種類 | 確認 |
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履歴 |
2011-03-22 制定 2015-10-20 確認 2020-10-20 確認
履歴に関する説明JISは、産業標準化法に基づき、主務大臣が必要と認め制定する国家規格です。JISの制定、確認又は改正の日から5年を経過する日までに、それがなお適正であるか見直しが行われ、主務大臣が確認、改正又は廃止を行います。
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原案作成団体 |
一般社団法人 表面化学分析技術国際標準化委員会 |
ICS |
71.040.40 |
対応国際規格 |
ISO 22048:2004
(IDT)
同等性に関する説明
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引用JIS規格 | K0141 |
引用国際規格 | |
ハンドブック |
化学分析:2025 |
備考 | |
正誤票・訂正票 |