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JIS K 0168:2011
表面化学分析―スタティック二次イオン質量分析法の情報フォーマット
Surface chemical analysis -- Information format for static secondary-ion mass spectrometry

発行年月日: 2011-03-22
確認年月日: 2020-10-20
状態: 有効

規格概要
スタティック二次イオン質量分析法(SIMS)の分析装置から得られるスペクトルデータファイルを有効利用するのに必要な校正及び装置パラメータの重要なデータを,簡便に保存し,かつ,コンピュータ間で転送するデジタル情報フォーマットについて規定。
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公示の種類 確認
履歴 2011-03-22 制定
2015-10-20 確認
2020-10-20 確認
原案作成団体 一般社団法人 表面化学分析技術国際標準化委員会
ICS 71.040.40
対応国際規格 ISO 22048:2004 (IDT)
引用JIS規格 K0141
引用国際規格
ハンドブック 化学分析:2025
備考
正誤票・訂正票
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