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JIS K 0167:2011
表面化学分析―オージェ電子分光法及びX線光電子分光法―均質物質定量分析のための実験的に求められた相対感度係数の使用指針
Surface chemical analysis -- Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy -- Guide to the use of experimentally determined relative sensitivity factors for the quantitative analysis of homogeneous materials

発行年月日: 2011-03-22
確認年月日: 2020-10-20
状態: 有効

プレビュー
和文(PDF)
規格概要
AES及びXPSを用いた均質物質の定量分析を行うために用いる相対感度係数を実験的に決定する測定手法及び使用方法についての指針。
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公示の種類 確認
履歴 2011-03-22 制定
2015-10-20 確認
2020-10-20 確認
原案作成団体 一般社団法人 表面化学分析技術国際標準化委員会
ICS 71.040.40
対応国際規格 ISO 18118:2004 (IDT)
引用JIS規格 K0147
引用国際規格 ISO 21270
ハンドブック 化学分析:2025
備考
正誤票・訂正票
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