JIS K 0167:2011
表面化学分析―オージェ電子分光法及びX線光電子分光法―均質物質定量分析のための実験的に求められた相対感度係数の使用指針
Surface chemical analysis -- Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy -- Guide to the use of experimentally determined relative sensitivity factors for the quantitative analysis of homogeneous materials
発行年月日:
2011-03-22
確認年月日:
2020-10-20
状態:
有効
和文 26ページ
3,410 円(税込) 本体価格:3,100円
公示の種類 | 確認 |
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履歴 |
2011-03-22 制定 2015-10-20 確認 2020-10-20 確認
履歴に関する説明JISは、産業標準化法に基づき、主務大臣が必要と認め制定する国家規格です。JISの制定、確認又は改正の日から5年を経過する日までに、それがなお適正であるか見直しが行われ、主務大臣が確認、改正又は廃止を行います。
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原案作成団体 |
一般社団法人 表面化学分析技術国際標準化委員会 |
ICS |
71.040.40 |
対応国際規格 |
ISO 18118:2004 (IDT)
同等性に関する説明
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引用JIS規格 | K0147 |
引用国際規格 |
ISO 21270 |
ハンドブック |
化学分析:2025 |
備考 | |
正誤票・訂正票 |