JIS K 0158:2021
表面化学分析―二次イオン質量分析法―単一イオン計測ダイナミック二次イオン質量分析法における飽和強度の補正法
Surface chemical analysis -- Secondary ion mass spectrometry -- Correction method for saturated intensity in single ion counting dynamic secondary ion mass spectrometry
発行年月日:
2021-07-20
状態:
有効
和文 20ページ
2,860 円(税込) 本体価格:2,600円
- プレビュー
- 和文(PDF)
- 規格概要
-
磁気セクター型二次イオン質量分析計又は四重極型二次イオン質量分析計のパルス計測方式における強度軸の線形性からのかい(乖)離を許容する最大計数率の測定方法について規定。全文を表示する
公示の種類 | 制定 |
---|---|
履歴 |
2021-07-20 制定
履歴に関する説明JISは、産業標準化法に基づき、主務大臣が必要と認め制定する国家規格です。JISの制定、確認又は改正の日から5年を経過する日までに、それがなお適正であるか見直しが行われ、主務大臣が確認、改正又は廃止を行います。
|
原案作成団体 |
一般財団法人 日本規格協会 一般社団法人 表面化学分析技術国際標準化委員会 |
ICS |
71.040.40 |
対応国際規格 |
ISO 20411:2018
(IDT)
同等性に関する説明
|
引用JIS規格 | K0147-1 , K0147-2 |
引用国際規格 | |
ハンドブック |
化学分析:2025 |
備考 | |
正誤票・訂正票 |