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JIS K 0158:2021
表面化学分析―二次イオン質量分析法―単一イオン計測ダイナミック二次イオン質量分析法における飽和強度の補正法
Surface chemical analysis -- Secondary ion mass spectrometry -- Correction method for saturated intensity in single ion counting dynamic secondary ion mass spectrometry

プレビュー
和文(PDF)
規格概要
磁気セクター型二次イオン質量分析計又は四重極型二次イオン質量分析計のパルス計測方式における強度軸の線形性からのかい(乖)離を許容する最大計数率の測定方法について規定。
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公示の種類 制定
履歴 2021-07-20 制定
原案作成団体 一般財団法人 日本規格協会
一般社団法人 表面化学分析技術国際標準化委員会
ICS 71.040.40
対応国際規格 ISO 20411:2018 (IDT)
引用JIS規格 K0147-1 ,  K0147-2
引用国際規格
ハンドブック 化学分析:2025
備考
正誤票・訂正票
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