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JIS K 0153:2015
表面化学分析―二次イオン質量分析法―スタティック二次イオン質量分析法における相対イオン強度目盛の繰返し性,再現性及び一定性の確認方法
Surface chemical analysis -- Secondary-ion mass spectrometry -- Repeatability and constancy of the relative-intensity scale in static secondary-ion mass spectrometry

発行年月日: 2015-10-20
確認年月日: 2020-10-20
状態: 有効

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和文(PDF)
規格概要
一般的なスタティック二次イオン質量分析法における正イオンの相対強度目盛の繰返し性,再現性及び一定性を確認する方法について規定。
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公示の種類 確認
履歴 2015-10-20 制定
2020-10-20 確認
原案作成団体 一般社団法人 表面化学分析技術国際標準化委員会
ICS 71.040.40
対応国際規格 ISO 23830:2008 (IDT)
引用JIS規格
引用国際規格
ハンドブック 化学分析:2025
備考
正誤票・訂正票
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