JIS K 0152:2014
表面化学分析―X線光電子分光法―強度目盛の繰返し性,再現性及び一定性
Surface chemical analysis -- X-ray photoelectron spectroscopy -- Repeatability and constancy of intensity scale
発行年月日:
2014-07-22
確認年月日:
2024-10-21
状態:
有効
和文 18ページ
2,420 円(税込) 本体価格:2,200円
- プレビュー
- 和文(PDF)
- 規格概要
-
単色化していないAl X線,Mg X線又は単色化したAl X線を用いたX線光電子分光器の強度目盛の繰返し性,再現性及び一定性を評価する方法について規定。全文を表示する
公示の種類 | 確認 |
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履歴 |
2014-07-22 制定 2019-10-21 確認 2024-10-21 確認
履歴に関する説明JISは、産業標準化法に基づき、主務大臣が必要と認め制定する国家規格です。JISの制定、確認又は改正の日から5年を経過する日までに、それがなお適正であるか見直しが行われ、主務大臣が確認、改正又は廃止を行います。
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原案作成団体 |
一般社団法人 表面化学分析技術国際標準化委員会 |
ICS |
71.040.40 |
対応国際規格 |
ISO 24237:2005
(IDT)
同等性に関する説明
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引用JIS規格 | K0145 |
引用国際規格 | |
ハンドブック |
化学分析:2025 |
備考 | |
正誤票・訂正票 |