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JIS K 0152:2014
表面化学分析―X線光電子分光法―強度目盛の繰返し性,再現性及び一定性
Surface chemical analysis -- X-ray photoelectron spectroscopy -- Repeatability and constancy of intensity scale

発行年月日: 2014-07-22
確認年月日: 2024-10-21
状態: 有効

プレビュー
和文(PDF)
規格概要
単色化していないAl X線,Mg X線又は単色化したAl X線を用いたX線光電子分光器の強度目盛の繰返し性,再現性及び一定性を評価する方法について規定。
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公示の種類 確認
履歴 2014-07-22 制定
2019-10-21 確認
2024-10-21 確認
原案作成団体 一般社団法人 表面化学分析技術国際標準化委員会
ICS 71.040.40
対応国際規格 ISO 24237:2005 (IDT)
引用JIS規格 K0145
引用国際規格
ハンドブック 化学分析:2025
備考
正誤票・訂正票
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