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JIS K 0149-1:2019
マイクロビーム分析―走査電子顕微法―第1部:像倍率校正方法
Microbeam analysis -- Scanning electron microscopy -- Guidelines for calibrating image magnification

発行年月日: 2019-11-20
確認年月日: 2024-10-21
状態: 有効

プレビュー
和文(PDF)
規格概要
適切な標準物質を用いて走査電子顕微鏡の像倍率を校正する方法について規定。ただし,この規格は測長SEMには適用しない。
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公示の種類 確認
履歴 2008-02-20 制定
2012-10-22 確認
2017-10-20 確認
2019-11-20 改正
2024-10-21 確認
原案作成団体 一般財団法人 日本規格協会
一般社団法人 表面化学分析技術国際標準化委員会
ICS 37.020
対応国際規格 ISO 16700:2016 (IDT)
引用JIS規格 Q0030 ,  Q0035 ,  Q17025 ,  Q17034
引用国際規格
ハンドブック 化学分析:2025
備考
正誤票・訂正票
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