JIS K 0145:2002
表面化学分析―X線光電子分光装置―エネルギー軸目盛の校正
Surface chemical analysis -- X-ray photoelectron spectrometers -- Calibration of energy scales
発行年月日:
2002-04-30
確認年月日:
2021-10-20
状態:
有効
和文 32ページ
3,850 円(税込) 本体価格:3,500円
- プレビュー
- 和文(PDF)
- 規格概要
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通常の分析用途に用いる場合の,単色化しないAlとMg,単色化したAlを励起X線源として用いるX線光電子分光装置の結合エネルギー軸目盛を校正する方法を定める。全文を表示する
公示の種類 | 確認 |
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履歴 |
2002-03-20 制定 2007-05-20 確認 2011-10-20 確認 2016-10-20 確認 2021-10-20 確認
履歴に関する説明JISは、産業標準化法に基づき、主務大臣が必要と認め制定する国家規格です。JISの制定、確認又は改正の日から5年を経過する日までに、それがなお適正であるか見直しが行われ、主務大臣が確認、改正又は廃止を行います。
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原案作成団体 |
一般財団法人 日本規格協会 一般社団法人 表面化学分析技術国際標準化委員会 |
ICS |
71.040.50 |
対応国際規格 |
ISO 15472:2001 (IDT)
同等性に関する説明
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引用JIS規格 | |
引用国際規格 |
ISO 18115 |
ハンドブック |
化学分析:2025 |
備考 | |
正誤票・訂正票 |