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JIS K 0145:2002
表面化学分析―X線光電子分光装置―エネルギー軸目盛の校正
Surface chemical analysis -- X-ray photoelectron spectrometers -- Calibration of energy scales

発行年月日: 2002-04-30
確認年月日: 2021-10-20
状態: 有効

プレビュー
和文(PDF)
規格概要
通常の分析用途に用いる場合の,単色化しないAlとMg,単色化したAlを励起X線源として用いるX線光電子分光装置の結合エネルギー軸目盛を校正する方法を定める。
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公示の種類 確認
履歴 2002-03-20 制定
2007-05-20 確認
2011-10-20 確認
2016-10-20 確認
2021-10-20 確認
原案作成団体 一般財団法人 日本規格協会
一般社団法人 表面化学分析技術国際標準化委員会
ICS 71.040.50
対応国際規格 ISO 15472:2001 (IDT)
引用JIS規格
引用国際規格 ISO 18115
ハンドブック 化学分析:2025
備考
正誤票・訂正票
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