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JIS K 0132:1997
走査電子顕微鏡試験方法通則
General rules for scanning electron microscopy

発行年月日: 1997-10-01
確認年月日: 2021-10-20
状態: 有効

プレビュー
和文(PDF)  英訳(PDF)
規格概要
走査顕微鏡を用いて,二次電子による試料表画の微小部の形態観察と分析を行う場合の一般的事項について規定。
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公示の種類 確認
履歴 1997-09-20 制定
2002-09-20 確認
2006-11-20 確認
2011-10-20 確認
2016-10-20 確認
2021-10-20 確認
原案作成団体 一般社団法人 日本分析機器工業会
ICS 37.020
対応国際規格
引用JIS規格 K0050
引用国際規格
ハンドブック 化学分析:2025
備考
正誤票・訂正票
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