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JIS K 0131:1996
X線回折分析通則
General rules for X-ray diffractometric analysis

発行年月日: 1996-08-31
確認年月日: 2021-10-20
状態: 有効

プレビュー
和文(PDF)  英訳(PDF)
規格概要
X線回析装置を用いて回析X線を測定し,これによって物質の固定・定量,格子定数の精密測定,結晶化度の測定などを行う場合の一般的事項について規定。
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公示の種類 確認
履歴 1996-07-01 制定
2002-06-20 確認
2006-11-20 確認
2011-10-20 確認
2016-10-20 確認
2021-10-20 確認
原案作成団体 一般社団法人 日本分析機器工業会
ICS 71.040.50
対応国際規格
引用JIS規格 K0050 ,  K0119 ,  K0211 ,  K0215 ,  Z9101 ,  Z9104
引用国際規格
ハンドブック 化学分析:2025
備考
正誤票・訂正票
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