JIS K 0131:1996
X線回折分析通則
General rules for X-ray diffractometric analysis
発行年月日:
1996-08-31
確認年月日:
2021-10-20
状態:
有効
和文 60ページ
3,410 円(税込) 本体価格:3,100円
英訳 27ページ
8,800 円(税込) 本体価格:8,000円
- プレビュー
- 和文(PDF) 英訳(PDF)
- 規格概要
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X線回析装置を用いて回析X線を測定し,これによって物質の固定・定量,格子定数の精密測定,結晶化度の測定などを行う場合の一般的事項について規定。全文を表示する
公示の種類 | 確認 |
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履歴 |
1996-07-01 制定 2002-06-20 確認 2006-11-20 確認 2011-10-20 確認 2016-10-20 確認 2021-10-20 確認
履歴に関する説明JISは、産業標準化法に基づき、主務大臣が必要と認め制定する国家規格です。JISの制定、確認又は改正の日から5年を経過する日までに、それがなお適正であるか見直しが行われ、主務大臣が確認、改正又は廃止を行います。
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原案作成団体 |
一般社団法人 日本分析機器工業会 |
ICS |
71.040.50 |
対応国際規格 |
同等性に関する説明
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引用JIS規格 | K0050 , K0119 , K0211 , K0215 , Z9101 , Z9104 |
引用国際規格 | |
ハンドブック |
化学分析:2025 |
備考 | |
正誤票・訂正票 |