JIS C 5003:1974
電子部品の故障率試験方法通則
General test procedure of failure rate for electronic components
発行年月日:
1974-07-31
確認年月日:
2024-10-21
状態:
有効
和文 13ページ
1,540 円(税込) 本体価格:1,400円
英訳 9ページ
4,840 円(税込) 本体価格:4,400円
- 規格概要
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本質的に同一設計で連続的に製造され,確立した品質管理によって生産される電子部品であって,原則として期待される寿命期間中,一定の故障率を合理的に仮定できる部品について適用し,計数1回抜取検査方式によって,部品の故障率水準の初期判定,維持,拡張の原則,測定間隔,試料数,試験時間,得られた結果の処理などの手順について規定。全文を表示する
公示の種類 | 確認 |
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履歴 |
1969-07-01 制定 1972-08-01 確認 1974-07-01 改正 1977-07-01 確認 1982-11-01 確認 1988-01-01 確認 1993-02-01 確認 2004-03-20 確認 2009-10-01 確認 2014-10-20 確認 2019-10-21 確認 2024-10-21 確認
履歴に関する説明JISは、産業標準化法に基づき、主務大臣が必要と認め制定する国家規格です。JISの制定、確認又は改正の日から5年を経過する日までに、それがなお適正であるか見直しが行われ、主務大臣が確認、改正又は廃止を行います。
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原案作成団体 | |
ICS |
31.020 |
対応国際規格 |
同等性に関する説明
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引用JIS規格 | |
引用国際規格 | |
ハンドブック |
電子 I:2023 |
備考 | |
正誤票・訂正票 |