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JIS C 5003:1974
電子部品の故障率試験方法通則
General test procedure of failure rate for electronic components

発行年月日: 1974-07-31
確認年月日: 2019-10-21
状態: 有効

プレビュー
規格概要 本質的に同一設計で連続的に製造され,確立した品質管理によって生産される電子部品であって,原則として期待される寿命期間中,一定の故障率を合理的に仮定できる部品について適用し,計数1回抜取検査方式によって,部品の故障率水準の初期判定,維持,拡張の原則,測定間隔,試料数,試験時間,得られた結果の処理などの手順について規定。
公示の種類 確認
履歴 1969-07-01 制定
1972-08-01 確認
1974-07-01 改正
1977-07-01 確認
1982-11-01 確認
1988-01-01 確認
1993-02-01 確認
2004-03-20 確認
2009-10-01 確認
2014-10-20 確認
2019-10-21 確認
原案作成団体
ICS 31.020
対応国際規格
引用JIS規格
引用国際規格
ハンドブック 電子 I:2023
備考
正誤票・訂正票
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