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JIS C 1805-2:2001
プロセス計測制御機器―性能評価の一般的方法及び手順―第2部:基準状態における試験
Process measurement and control devices -- General methods and procedures for evaluating performance -- Part 2: Test under reference conditions

発行年月日: 2001-09-30
確認年月日: 2021-06-21
状態: 有効

プレビュー
和文(PDF)
規格概要
プロセス計測制御機器の機能及び性能に関する試験の実施と報告のための,一般的な方法と手順を規定。基準状態で行われる試験について述べている。
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公示の種類 確認
履歴 2001-08-20 制定
2006-06-20 確認
2011-10-20 確認
2016-10-20 確認
2021-06-21 確認
原案作成団体 一般社団法人 日本電気計測器工業会
ICS 25.040.40
対応国際規格 IEC 61298-2:1995 (MOD)
引用JIS規格 B0155 ,  C1010-1 ,  C1805-1
引用国際規格 IEC 60546-1:1987
ハンドブック 電気計測:2025
備考
正誤票・訂正票
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