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JIS C 1805-1:2001
プロセス計測制御機器―性能評価の一般的方法及び手順―第1部:一般的考察
Process measurement and control devices -- General methods and procedures for evaluating performance -- Part 1: General considerations

発行年月日: 2001-09-30
確認年月日: 2021-06-21
状態: 有効

規格概要
プロセス計測制御機器の機能及び性能に関する試験の実施と報告のための,一般的な方法と手順を規定。規格全体に適用する一般的原則について述べている。
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公示の種類 確認
履歴 2001-08-20 制定
2006-06-20 確認
2011-10-20 確認
2016-10-20 確認
2021-06-21 確認
原案作成団体 一般財団法人 日本規格協会
一般社団法人 日本電気計測器工業会
ICS 25.040.40
対応国際規格 IEC 61298-1:1995 (MOD)
引用JIS規格 B0155 ,  C1805-2 ,  C1805-4 ,  Z8202-0 ,  Z8202-1 ,  Z8202-10 ,  Z8202-12 ,  Z8202-13 ,  Z8202-2 ,  Z8202-3 ,  Z8202-4 ,  Z8202-5 ,  Z8202-6 ,  Z8202-7 ,  Z8202-8 ,  Z8202-9 ,  Z8203 ,  Z9901 ,  Z9902 ,  Z9903
引用国際規格 IEC 60410:1973
ハンドブック 電気計測:2025
備考
正誤票・訂正票
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