JIS C 1805-1:2001
プロセス計測制御機器―性能評価の一般的方法及び手順―第1部:一般的考察
Process measurement and control devices -- General methods and procedures for evaluating performance -- Part 1: General considerations
発行年月日:
2001-09-30
確認年月日:
2021-06-21
状態:
有効
和文 14ページ
2,420 円(税込) 本体価格:2,200円
- 規格概要
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プロセス計測制御機器の機能及び性能に関する試験の実施と報告のための,一般的な方法と手順を規定。規格全体に適用する一般的原則について述べている。全文を表示する
公示の種類 | 確認 |
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履歴 |
2001-08-20 制定 2006-06-20 確認 2011-10-20 確認 2016-10-20 確認 2021-06-21 確認
履歴に関する説明JISは、産業標準化法に基づき、主務大臣が必要と認め制定する国家規格です。JISの制定、確認又は改正の日から5年を経過する日までに、それがなお適正であるか見直しが行われ、主務大臣が確認、改正又は廃止を行います。
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原案作成団体 |
一般財団法人 日本規格協会 一般社団法人 日本電気計測器工業会 |
ICS |
25.040.40 |
対応国際規格 |
IEC 61298-1:1995 (MOD)
同等性に関する説明
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引用JIS規格 | B0155 , C1805-2 , C1805-4 , Z8202-0 , Z8202-1 , Z8202-10 , Z8202-12 , Z8202-13 , Z8202-2 , Z8202-3 , Z8202-4 , Z8202-5 , Z8202-6 , Z8202-7 , Z8202-8 , Z8202-9 , Z8203 , Z9901 , Z9902 , Z9903 |
引用国際規格 |
IEC 60410:1973 |
ハンドブック |
電気計測:2025 |
備考 | |
正誤票・訂正票 |