JIS C 1000-4-11:2003
電磁両立性 ― 第4部:試験及び測定技術 ― 第11節:電圧ディップ,短時間停電及び電圧変化に対するイミュニティ試験
Electromagnetic compatibility (EMC) -- Part 4: Testing and measuring techniques -- Section 11: Voltage dips, short interruptions and voltage variations immunity tests
発行年月日:
2003-03-20
状態:
旧版
- 規格概要
-
電圧ディップ,短時間停電及び電圧変化に対して,低圧配電系統に接続される電気・電子機器のイミュニティ試験方法と望ましい試験レベルの範囲について規定。全文を表示する
公示の種類 | 移行 |
---|---|
履歴 |
2003-03-20 制定 2004-03-20 移行
履歴に関する説明JISは、産業標準化法に基づき、主務大臣が必要と認め制定する国家規格です。JISの制定、確認又は改正の日から5年を経過する日までに、それがなお適正であるか見直しが行われ、主務大臣が確認、改正又は廃止を行います。
|
原案作成団体 |
一般財団法人 日本規格協会 一般社団法人 電気学会 |
ICS |
33.100.20 |
対応国際規格 |
IEC 61000-4-11:1994 (MOD) , IEC 61000-4-11:1994/AMEDNMENT 1:2000 (MOD)
同等性に関する説明
|
引用JIS規格 | C0161 |
引用国際規格 |
IEC 60050-161:1990 IEC 61000-2-2:1990 IEC 61000-4-1:1992 IEC/TR3 61000-2-1:1990 |
備考 | 平成16年3月20日から、JIS C 61000-4-11:2003に切り替わりました。なお、規格番号の切り替えであり、規格内容や制定・確認年月日等の変更はございません。 |