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JIS C 0035:1996
環境試験方法 ― 電気・電子 ― 一連耐候性試験
Environmental testing Part 2: Test methods Test Z/ABDM: Climatic sequence

規格概要
供試品が一連の温度,湿度,必要があれば減圧などの環境ストレスから構成された環境条件におかれた時,供試品の適応性を決めるための組合せ試験方法を規定。加えるストレスの順序及びある段階から次の段階へ移る際の条件が,自然の気候条件で観測されたのと同じタイプの劣化機構を加速し,十分進行させるために選択される。劣化の機構が同じであり,試験に対する規定の要求が満足されていれば,他の電気製品にも適用。
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公示の種類 移行
履歴 1996-03-01 制定
2001-02-20 確認
2004-03-20 移行
原案作成団体 一般財団法人 日本電子部品信頼性センター
ICS 19.040
対応国際規格 IEC 60068-2-61:1991 (IDT)
引用JIS規格 C0010 ,  C0020 ,  C0021 ,  C0027 ,  C0029 ,  C0033 ,  C0095
引用国際規格 IEC 68-1
IEC 68-2-1
IEC 68-2-13
IEC 68-2-2
IEC 68-2-28
IEC 68-2-30
IEC 68-3-1
IEC 721-2
IEC 721-3
備考 平成16年3月20日から、JIS C 60068-2-61:1996に切り替わりました。なお、規格番号の切り替えであり、規格内容や制定・確認年月日等の変更はございません。
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