JIS C 0035:1996
環境試験方法 ― 電気・電子 ― 一連耐候性試験
Environmental testing Part 2: Test methods Test Z/ABDM: Climatic sequence
発行年月日:
1996-03-31
状態:
旧版
- 規格概要
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供試品が一連の温度,湿度,必要があれば減圧などの環境ストレスから構成された環境条件におかれた時,供試品の適応性を決めるための組合せ試験方法を規定。加えるストレスの順序及びある段階から次の段階へ移る際の条件が,自然の気候条件で観測されたのと同じタイプの劣化機構を加速し,十分進行させるために選択される。劣化の機構が同じであり,試験に対する規定の要求が満足されていれば,他の電気製品にも適用。全文を表示する
公示の種類 | 移行 |
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履歴 |
1996-03-01 制定 2001-02-20 確認 2004-03-20 移行
履歴に関する説明JISは、産業標準化法に基づき、主務大臣が必要と認め制定する国家規格です。JISの制定、確認又は改正の日から5年を経過する日までに、それがなお適正であるか見直しが行われ、主務大臣が確認、改正又は廃止を行います。
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原案作成団体 |
一般財団法人 日本電子部品信頼性センター |
ICS |
19.040 |
対応国際規格 |
IEC 60068-2-61:1991 (IDT)
同等性に関する説明
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引用JIS規格 | C0010 , C0020 , C0021 , C0027 , C0029 , C0033 , C0095 |
引用国際規格 |
IEC 68-1 IEC 68-2-1 IEC 68-2-13 IEC 68-2-2 IEC 68-2-28 IEC 68-2-30 IEC 68-3-1 IEC 721-2 IEC 721-3 |
備考 | 平成16年3月20日から、JIS C 60068-2-61:1996に切り替わりました。なお、規格番号の切り替えであり、規格内容や制定・確認年月日等の変更はございません。 |