JIS C 0020:1995
環境試験方法 ― 電気・電子 ― 低温(耐寒性)試験方法
Environmental testing procedures Part 2: Tests, Tests A: Cold
発行年月日:
1995-03-31
状態:
旧版
- 規格概要
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発熱がない供試品及び発熱がある供試品に適用する低温(耐寒性)試験について規定。低温試験の目的は,部品,機器又は他の製品を低温で使用したり,貯蔵することができる能力を調べることである。この試験は,供試品が温度の変化に対して耐える能力又は変化中に正常動作する能力を評価するためのものではない。全文を表示する
公示の種類 | 移行 |
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履歴 |
1987-07-01 制定 1995-03-01 改正 2000-06-20 確認 2004-03-20 移行
履歴に関する説明JISは、産業標準化法に基づき、主務大臣が必要と認め制定する国家規格です。JISの制定、確認又は改正の日から5年を経過する日までに、それがなお適正であるか見直しが行われ、主務大臣が確認、改正又は廃止を行います。
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原案作成団体 |
一般財団法人 日本電子部品信頼性センター |
ICS |
19.040 19.080 |
対応国際規格 |
IEC 60068-2-1:1990 (IDT)
同等性に関する説明
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引用JIS規格 | |
引用国際規格 | |
備考 | 平成16年3月20日から、JIS C 60068-2-1:1995に切り替わりました。なお、規格番号の切り替えであり、規格内容や制定・確認年月日等の変更はございません。 |